...jest pusty
W blasku gwiazd
Szybki podgląd
34,91 zł
dagmaa  DROGA DO WOLNOŚCI Józef Janin
Szybki podgląd
3,50 zł
BEKSIŃSCY MAGDALENA GRZEBAŁKOWSKA
Szybki podgląd
39,99 zł
SZPIEDZY ? Grzegorz Jaszunski
Szybki podgląd
3,50 zł
dagmaa  SAS tajemnica pałacowej zbrodni
Szybki podgląd
3,00 zł
Encyklopedia popularna PWN + płyta CD-ROM
Szybki podgląd
222,12 zł
Zastraszanie. Co na to rodzice?
Szybki podgląd
21,97 zł
Skuteczność psychoterapii
Szybki podgląd
48,43 zł
Malarstwo polskiego modernizmu
Szybki podgląd
67,20 zł
Astma
Szybki podgląd
56,50 zł
Przegląd Geofizyczny Rocznik L 2005 Zeszyt 3-4
Szybki podgląd
19,25 zł
Przyjazne testy z komputera 7 Matematyka
Szybki podgląd
28,02 zł
Przyjazne testy z komputera Matematyka 5/6/7/8
Szybki podgląd
80,04 zł
Przegląd Geofizyczny Rocznik LII 2007 Zeszyt 2
Szybki podgląd
9,65 zł
Podstawy endokrynologii wieku rozwojowego
Szybki podgląd
48,23 zł
Przyjazne testy z komputera 6 Matematyka
Szybki podgląd
28,02 zł
Strona głównaInformatykaGraficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontr

Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontr

39,90 zł
Wydawca: Mikom
Kod: 23302
EAN: 9788372791788
ISBN/ISSN: 8372791783
Wysyłka:48 godzin
Waga:0.00 kg
Sprawdź koszty wysyłki

Koszty dostawy tego produktu

Ilość:szt.

W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji. Książka ukazuje możliwości, jakie posiadają dzisiejsze graficzne, zintegrowane środowiska programowe, zarówno pomiarowe, jak i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się w procesie projektowania systemów pomiarowych.
Autorzy Winiecki Wiesław, Nowak Jacek, Stanik Sławomir
Ciężar 0.465
Oprawa Miękka
Format 16.0x23.0cm
Objetosc 280
Rok wydania 2001

Dla tego produktu nie napisano jeszcze recenzji!

Napisz recenzję

Właściciel sklepu internetowego nie gwarantuje, że publikowane opinie pochodzą od konsumentów, którzy używali danego produktu lub go kupili.

Księgarnia internetowa, podręczniki, książki, audiobooki, artykuły szkolne. Księgarnia internetowa.

Księgarnia internetowa, podręczniki, książki, audiobooki, artykuły szkolne. Księgarnia internetowa.