10-01-2015
Strona głównaInformatykaGraficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontr
Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontr
W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji.
Książka ukazuje możliwości, jakie posiadają dzisiejsze graficzne, zintegrowane środowiska programowe, zarówno pomiarowe, jak i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się w procesie projektowania systemów pomiarowych.
Autorzy
Winiecki Wiesław, Nowak Jacek, Stanik Sławomir
Ciężar
0.465
Oprawa
Miękka
Format
16.0x23.0cm
Objetosc
280
Rok wydania
2001
Dla tego produktu nie napisano jeszcze recenzji!
Napisz recenzjęWłaściciel sklepu internetowego nie gwarantuje, że publikowane opinie pochodzą od konsumentów, którzy używali danego produktu lub go kupili.